Avio? 220 系統能處理未經稀釋的高基體樣品，為ICP 帶來新的性能及靈活性。 而硬件特性與直觀易用的軟件相結合，使多元素測量變得與單元素分析一樣簡單。
Avio 220 可通過以下性能，提供高效的操作、可靠的數據和低的擁有成本：
l ICP 中低的氬氣消耗
l 快的 ICP 啟動（從關機狀態啟動，光譜儀在短短幾分鐘內即可準備就緒）
l 對所有適用的元素都具有靈敏度與分辨率
l 具有雙向觀測技術的寬線性范圍
雙向觀測功能
Avio 220 系統獲得的雙向觀測功能。即使是波長大于 500 納米或低于 200 納米的元素也完全可以測量，即便是在 ppb 的含量水平。該 Avio 系統的雙向觀測設計也提供了可擴展的線性動態范圍。
可簡化您的開發方法，同時借助 Avio 220 系統的 PlasmaCam?技術，便利遠程監控等離子體。
PlasmaShear 系統，可實現無氬干擾消除
為了消除軸向觀測的干擾，需要消除等離子體的冷尾焰。
常規ICP消除尾焰需要消耗高達 4 升/分鐘的氬氣流量，Avio系統的 PlasmaShear? 技術只需空氣即可。無需高維護、高提取系統或錐體。就是一個集成的、自動化的、能提供軸向分析的干擾消除系統。
CCD 檢測器，可實現重現性和精密度
借助全波長功能，Avio 220 系統的強大電荷耦合器件（CCD）檢測器。
CCD 檢測器可同時測量所選譜線及其譜線附近波長范圍，實時扣背景，實現檢測精密度。在分析過程中，它還可以同時執行背景校正測量，進一步提高準確度和靈敏度。
帶有轉換炬管底座的垂直等離子體，可實現基體靈活性
即使 ICP 正在運行，Avio 220 系統的垂直炬管無需工具也能進行簡便快捷的調節，可提供更大的樣品靈活性并簡化維護。
