布魯克AXS的D8 ADVANCE X射線衍射儀，通過TWIN-TWIN光路，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓光路互換、重新對光等問題方便解決
測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰（注意不是一個衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度
林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，提高設備的使用效率和設備的探測靈敏度。
技術指標：
Theta/theta 立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868 x 1300 x 1135 mm
應用
物相定性分析 、物相定量分析
結晶度及非晶相含量分析、結構精修及解析、點陣參數測量
無標樣定量分析、微觀應變分析、晶粒尺寸分析、原位分析
殘余應力、低角度介孔材料測量、織構及ODF分析
薄膜掠入射、薄膜反射率測量、小角散射
